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ICT测试治具测试读取时间的方法是怎样的?

2019-06-05 11:29:53 发布者:深圳市捷甫电子有限公司
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ICT测试治具可以直接对在线器件电气性能来进行测试,在测试的过程中可以发现产品的不良器件。从内存单元读取数据所需的时间,ICT测试治具的存储器读取时间。


那么ICT测试治具测试读取时间的方法是怎样的呢?


1、往单元A写入数据"0"。


2、往单元B写入数据"1"。


3、坚持READ为使能状态并读取单元A值。


4、地址转换到单元B,实质上就是ICT测试治具丈量内存数据的坚持时间。


5、转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。


6、写入恢复时间--写操作之后的能读取某一内存单元所必须等待的时间。


7、暂停时间--内存单元能保持它状态的时间。


8、刷新时间--刷新内存的允许时间。


9、建立时间--输入数据转换必需提前锁定输入时钟的时间。


10、坚持时间--锁定输入时钟之后输入数据必需坚持的时间。


同时改变ICT测试治具的测试周期,通过反复运行功能测试。来测试器件运行的速度,周期和频率通常通过二进制搜索的方法来进行变化,频率测试的目的找到器件所能运行的快速度。